Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Malozemoff A.P., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Scudiere J., Goyal A., Paranthaman M., Verebelyi D.T., Jowett M., Rupich M.W.(mrupich@amsuper.com), Thompson E., Wang J.-., Li Q., Annavarapu S., Cui S., Fritzemeier L., Aldrich B., Craven C., Niu F., Schwall R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, MOD process, critical current, fabrication, critical caracteristics
De Winter G.(griet.dewinter@rug.ac.be), Mahieu S.(stijin.mahieu@rug.ac.be), De Roeck I.(ilse.deroek@rug.ac.be), De Gryse R.(roger.degryse@rug.ac.be), Denul J.(jurgen.denul@bekaert.com)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, HTS, REBCO, magnetron sputtering, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.